粉体粒径测定方法有多种，以下为您详细介绍：

显微镜法是一种直观的测定方法。它是通过显微镜直接观察粉体颗粒的大小。可以使用光学显微镜或电子显微镜，光学显微镜适用于粒径相对较大的粉体，一般能观察到数微米以上的颗粒。电子显微镜则具有更高的分辨率，能够清晰观察到纳米级别的颗粒。通过在显微镜下测量颗粒的长、宽等尺寸，再进行统计分析来确定粒径分布。不过该方法操作较为繁琐，且只能观察有限数量的颗粒，代表性可能存在一定局限。

筛分法是一种常用的传统方法。它利用不同孔径的筛网对粉体进行筛分，将粉体按照粒径大小进行分级。把一定量的粉体放在一系列孔径逐渐减小的筛网上，通过振摇等方式使粉体通过筛网，留在不同筛网上的粉体质量不同，根据各筛网截留的粉体质量来计算不同粒径范围的颗粒比例。这种方法简单易行，但对于粒径较小的粉体，筛分效率较低，而且筛网容易堵塞，影响测定结果的准确性。

沉降法是基于颗粒在液体中的沉降速度与粒径的关系来测定粒径。根据斯托克斯定律，在一定条件下，球形颗粒在液体中的沉降速度与其粒径的平方成正比。通过测量颗粒的沉降速度，就可以计算出颗粒的粒径。沉降法又分为重力沉降法和离心沉降法，重力沉降法适用于较大粒径颗粒的测定，而离心沉降法可以加快较小颗粒的沉降速度，适用于更细粉体的粒径测定。不过沉降法要求颗粒为球形，实际粉体颗粒形状往往不规则，会对测定结果产生一定误差。

激光散射法是目前应用广泛的一种方法。它基于激光与颗粒相互作用产生散射光，散射光的强度分布与颗粒的粒径大小有关。通过测量散射光的强度分布，并利用相关的数学模型进行反演计算，就可以得到粉体的粒径分布。该方法测量速度快、测量范围宽、重复性好，能够同时测量多种粒径范围的颗粒，但仪器设备相对昂贵。

库尔特计数法是让颗粒通过一个小孔，当颗粒通过小孔时会引起小孔两端电阻的变化，电阻变化的大小与颗粒的体积成正比，通过测量电阻变化来确定颗粒的粒径。这种方法能够准确测量颗粒的数量和粒径，但对于高浓度的粉体样品，容易出现小孔堵塞的问题。