粉体粒子大小的测定方法主要有以下几种：

显微镜法是一种直观的测定方法。它借助光学显微镜或电子显微镜来直接观察和测量粒子的大小。光学显微镜可用于观察较大粒径的粒子，一般能测量粒径在0.2 - 100μm范围的粒子，能清晰呈现粒子的形态和大小。电子显微镜则具有更高的分辨率，可测量纳米级别的粒子，对于研究超细粉体的粒径情况非常有用，不过其设备成本较高，操作也相对复杂。

筛分法是通过不同孔径的筛网对粉体进行筛分，以确定粒子的大小分布。将粉体样品置于一系列具有不同孔径的筛子上，按照孔径由大到小依次排列，然后进行振动筛分一定时间，根据留在各筛子上的粉体质量，计算出不同粒径范围的粒子所占的比例。该方法适用于粒径在45μm以上的粉体，操作相对简单，但对于形状不规则的粒子，可能会存在一定的测量误差。

沉降法是基于粒子在液体中的沉降速度与粒子大小相关的原理。在一定的液体介质中，粒子会在重力或离心力的作用下发生沉降，通过测量粒子的沉降速度，利用斯托克斯定律等公式计算出粒子的大小。重力沉降法适用于较大粒径的粒子，而离心沉降法可用于测量较小粒径的粒子，能测量粒径范围较宽，从几纳米到几百微米，但测量过程受温度、介质黏度等因素影响较大。

库尔特计数法是让粒子通过一个小孔，当粒子通过小孔时会引起小孔内外电阻的变化，从而产生电脉冲信号，脉冲信号的大小与粒子的体积成正比，通过记录和分析这些脉冲信号，就可以得到粒子的大小和数量分布。该方法测量速度快、精度高，可测量的粒径范围为0.5 - 1000μm，但对于高浓度的粉体样品需要进行稀释处理。

激光散射法是利用激光照射粉体粒子，粒子会使激光发生散射，通过测量散射光的强度分布，利用相关的光学理论和算法来计算粒子的大小和分布。它具有测量速度快、测量范围广（从纳米到毫米级别）、重复性好等优点，是目前应用较为广泛的一种粒子大小测定方法。不过，该方法对仪器的要求较高，且测量结果可能会受到粒子的形状、折射率等因素